CORSO DI TECNOLOGIE DI DEPOSIZIONE IN BASSA PRESSIONE E TECNICHE PER LA CARATTERIZZAZIONE DEI FILM SOTTILI
Programma
14/11/2024 (in modalità on-line con piattaforma zoom)
(Programma didattico Modulo 1 - Tecnologia del vuoto)
- Definizioni, Proprietà dei Gas e Teoria Cinetica
- Regimi di Flusso
- Portata, Conduttanza, Velocità di Pompaggio
- Calcoli di Conduttanze
- Equazione generale del pompaggio
- Esercitazioni teoriche
- Produzione del Vuoto (Componenti e classificazione delle pompe)
- Misura del grado di vuoto
- Ionizzazione nei gas e fenomeni di interazione gas-solido
- Caratteristiche dei materiali impiegati nei sistemi da vuoto
- Soluzioni particolari dell’equazione del pompaggio
- Dimensionamento degli impianti, vuoto limite e tempi di pumpdown
15/11/2024 (in modalità on-line con piattaforma zoom)
(Programma didattico Modulo 2 - Tecnologie e processi di deposizione di film sottili)
- Evaporazione Termica e cenni all’IBAD
- Tecniche di evaporazione: tecnologia e fondamenti
- Meccanismi di evaporazione
- Evaporazione e tensione di vapore di equilibrio
- Evaporazione di leghe e composti: considerazioni sulla cinetica e sui materiali
- Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition- PECVD
- Fondamenti della tecnologia
- Scambi di energia tra particelle
- Dinamica delle particelle
- Effetti collettivi di plasmi ideali
- Impianti al plasma: configurazione e funzionamento
- Processi al plasma
- Relazione tra i parametri di processo e le proprietà del coating
- Plasma sputtering
- Fondamenti della deposizione sputtering
- Impianti di sputtering: configurazione e funzionamento.
- Sputtering reattivo
- Proprietà del film sottile in funzione dei parametri di sputtering
- Thermal-CVD, Photo assisted-CVD
- Thermal-CVD - Schema di principio e parametri di controllo del processo
- Trasporto delle molecole di gas
- Trasporto di calore
- Reazioni chimiche
- Apparecchiature ed esempi di trattamento
- Photon assisted CVD
- Sistemi CVD non termici
21/11/2024 (Programma didattico Modulo 3 - Tecnologia del vuoto - Attività di laboratorio presso Palazzo Einaudi Via Lungo P.zza D’Armi 6, 2° Piano, Chivasso (TO)
- Ispezione visive di HW da vuoto: pompe, misuratori, flange, ecc
- Misure di velocità di pompaggio
- Misura di volumi e verifiche della legge di Boyle
- Tensione di Vapore dell’Acqua
- Leak Test
La programmazione dei tempi e il numero delle esperienze sarà gestita in modo tale da prevedere un impegno per la mattina e il pomeriggio, con pausa pranzo.
22/11/2024 (Programma didattico Modulo 4 - Tecnologie di caratterizzazione di superficie - in modalità on-line con piattaforma Zoom )
SEM-FIB-EDX
- Interazione particelle cariche-materia
- Scanning Electron Microscope (SEM):
- struttura e principio di funzionamento
- meccanismi di formazione delle immagini, contrasto, interpretazione
- Focused Ion Beam (FIB):
- struttura e principio di funzionamento
- micro e nano fabbricazioni
- Energy Dispersive Systems (EDS – Microanalisi)
- analisi qualitativa e quantitativa di campioni in spettroscopia EDS
XPS
- Principi base della fotoemissione e struttura degli spettri di fotoemissione.
- Strumentazione
- sorgente X a doppio anodo e monocromatizzata
- sorgente UV
- analizzatore emisferico e detectors
- Cenni sulla luce di sincrotrone.
- Informazioni deducibili dall'analisi degli spettri di fotoemissione a raggi X e di fotoemissione a UV.
- Analisi semiquantitativa dei picchi di fotoemissione.