CORSO DI TECNICHE DI CARATTERIZZAZIONE MATERIALI E FILM SOTTILI MODULO 1: MICROSCOPIA PARTICELLARE (SEM FIB) E MICROANALISI (EDS)

Programma

Il primo e secondo giorno del corso si terranno in modalità telematica, mentre il terzo, con la parte di laboratorio, sarà in presenza.
Il programma prevede la seguente struttura:

• 1° giorno

• Introduzione alla teoria dell'immagine
• Interazione particelle cariche-materia
• SEM: 
  • struttura e principio di funzionamento
  • meccanismi di formazione delle immagini, contrasto, interpretazione
  • strumentazioni per la preparazione dei campioni 

• 2° giorno 

• EDS: analisi qualitativa e quantitativa di campioni inorganici in spettroscopia
• FIB: struttura, immagini, micro e nano lavorazioni
• Attività di laboratorio in presenza a Genova