CORSO DI TECNICHE DI CARATTERIZZAZIONE MATERIALI E FILM SOTTILI MODULO 2: SPETTROSCOPIA VIBRAZIONALE E FOTOELETTRONICA (XPS -FTIR - RAMAN)

Programma

Giorno 1 – Fondamenti e Principi
Mattina

  • Introduzione al corso e obiettivi
  • Panoramica delle tecniche spettroscopiche: FTIR, Raman, XPS
  • Principi fisici:
    • Interazione radiazione-materia
    • Spettroscopia vibrazionale (FTIR e Raman)
    • Fotoemissione elettronica (XPS)
Pomeriggio
  • Strumentazione:
    • Componenti chiave di FTIR e Raman
    • Configurazioni XPS
  • Preparazione dei campioni:
    • Considerazioni per solidi, liquidi, film sottili
    • Pulizia e contaminazioni superficiali
Giorno 2 – Applicazioni e Interpretazione
Mattina
  • FTIR:
    • Spettri tipici, bande caratteristiche
    • Tecniche ATR, trasmissione, riflessione
  • Raman:
    • Differenze rispetto a FTIR
    • Effetti di fluorescenza e mitigazione
Pomeriggio
  • XPS:
    • Analisi qualitativa e quantitativa
    • Profondità di analisi e sputtering
  • Esercitazioni pratiche:
    • Lettura e interpretazione di spettri reali
    • Identificazione di gruppi funzionali e stati chimici
Giorno 3 – Laboratorio e Casi Studio
Mattina (a Genova)
  • Sessione pratica:
    • Acquisizione spettri FTIR e Raman
    • Dimostrazione XPS (o analisi dati se strumento non disponibile)
  • Software e elaborazione dati:
    • Baseline correction, normalizzazione
    • Fit di picchi (es. XPS)
Pomeriggio
  • Casi studio:
    • Analisi di polimeri, superfici funzionalizzate, ossidi
    • Discussione di problematiche comuni
  • Conclusioni:
    • Confronto tra tecniche
    • Domande e certificazione di partecipazione