DIVENTA SOCIO AIV > > >
Il corso sarà organizzato come segue:
7 giugno
(10.00-11.15) Principi di base, caratteristiche componenti e utilizzo come diagnostica
Fabrizio Siviero, Saes Getters
(11.15-12.30) Calibrazione, sensibilità e instabilità
Giuseppe Firpo, Università di Genova
(14.00-15.00) Analisi di sistemi sigillati con spettrometri di massa
Enea Rizzi e Luca Mauri, Saes Getters
(15.15-16.30) Applicazioni industriali di spettrometria di massa
Patrick Walther (Pfeiffer Vacuum)
8 giugno
(10.00-11.15) Individuazione di contaminanti organici mediante spettrometria di massa
Francesco Saliu, Università di Milano Bicocca
(11.15-12.30) Analisi degli spettri (ovvero come leggere e interpretare gli spettri in sistemi HV o UHV)
Fabrizio Siviero, Saes Getters
(14.30-17.00) Tour dei laboratori R&D Corporate Saes Getters
sessione da remoto
Il programma in formato pdf è scaricabile qui.
Il corso è organizzato dall'Associazione Italiana di Scienza e Tecnologia in collaborazione con la società Saes Group
Espedito Vassallo - Istituto per la Scienza e Tecnologia dei Plasmi CNR
Michele Mura - SAES Vacuum Technology Division, SAES Getters S.p.A
Fabrizio Siviero, Enea Rizzi, Luca Mauri (Saes Getters)
Giuseppe Firpo (Università di Genova)
Francesco Saliu (Università di Milano Bicocca)
Il corso prevede una quota di partecipazione di 350 euro
ll pagamento della quota di partecipazione può essere effettuato a mezzo bonifico sul conto corrente bancario intestato ad AIV–Associazione Italiana di Scienza e Tecnologia
Fineco Bank 000003672954
IBAN IT90K0301503200000003672954